Proceedings Paper
High-resolution fluorescence microscopy using three-dimensional structured illumination| Format | Member Price | Non-Member Price |
|---|---|---|
| $17.00 | $21.00 |
Paper Abstract
We developed a high-resolution microscope based on three-dimensional structured illumination generated with two
spatial light modulators. This setup enables both lateral resolution improvement by a factor two and axial localization of
point like objects with nanometric precision.
Paper Details
Date Published: 1 July 2009
PDF: 7 pages
Proc. SPIE 7367, Advanced Microscopy Techniques, 73670X (1 July 2009);
Published in SPIE Proceedings Vol. 7367:
Advanced Microscopy Techniques
Paul J. Campagnola; Ernst H. K. Stelzer; Gert von Bally, Editor(s)
PDF: 7 pages
Proc. SPIE 7367, Advanced Microscopy Techniques, 73670X (1 July 2009);
Show Author Affiliations
P. F. Gardeazabal Rodriguez, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
P. Blandin, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
I. Maksimovic, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
E, Sepulveda, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
P. Blandin, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
I. Maksimovic, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
E, Sepulveda, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
E. Muro, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
B. Dubertret, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
V. Loriette, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
B. Dubertret, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
V. Loriette, Lab. Photons et Matière, CNRS, Ecole Supérieure de Physique et Chimie Industrielles (France)
Published in SPIE Proceedings Vol. 7367:
Advanced Microscopy Techniques
Paul J. Campagnola; Ernst H. K. Stelzer; Gert von Bally, Editor(s)
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