Share Email Print
cover

Proceedings Paper

Ten-daily global composites of METOP-AVHRR
Author(s): Herman Eerens; Bettina Baruth; Lieven Bydekerke; Bart Deronde; Jan Dries; Erwin Goor; Walter Heyns; Tim Jacobs; Bart Ooms; Isabelle Piccard; Antoine Royer; Else Swinnen; Adri Timmermans; Tom Van Roey; Johan Vereecken; Yves Verheijen
Format Member Price Non-Member Price
PDF $14.40 $18.00

Paper Abstract

Systematic scanning of the earth surface could be achieved for the first time in 1978, with the launch of the earth observation system NOAA-AVHRR. Some twenty years later, the SPOT-VEGETATION instrument introduced significant improvements at the levels of image quality, timeliness and availability. Since the start in April 1998, VITO is responsible for the central processing, archiving and distribution of the VEGETATION data. This paper briefly announces how a similar service is being established at VITO to provide the same kind of image data from the recently launched METOP-AVHRR.

Paper Details

Date Published: 3 November 2010
PDF: 6 pages
Proc. SPIE 7841, Sixth International Symposium on Digital Earth: Data Processing and Applications, 78410U (3 November 2010); doi: 10.1117/12.873233
Show Author Affiliations
Herman Eerens, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Bettina Baruth, Joint Research Ctr., Monitoring Agricultural Resources Unit (Italy)
Lieven Bydekerke, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Bart Deronde, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Jan Dries, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Erwin Goor, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Walter Heyns, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Tim Jacobs, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Bart Ooms, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Isabelle Piccard, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Antoine Royer, Joint Research Ctr., Monitoring Agricultural Resources Unit (Italy)
Else Swinnen, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Adri Timmermans, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Tom Van Roey, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Johan Vereecken, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)
Yves Verheijen, Vlaamse Instelling voor Technologisch Onderzoek (Belgium)


Published in SPIE Proceedings Vol. 7841:
Sixth International Symposium on Digital Earth: Data Processing and Applications
Huadong Guo; Changlin Wang, Editor(s)

© SPIE. Terms of Use
Back to Top