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Proceedings Paper

Temperature characterization of the CITIROC front-end chip of the ASTRI SST-2M Cherenkov camera
Author(s): Domenico Impiombato; Salvatore Giarrusso; Teresa Mineo; Osvaldo Catalano; Carmelo Gargano; Giovanni La Rosa; Francesco Russo; Pierluca Sangiorgi; Giovanni Bonanno; Salvatore Garozzo; Alessandro Grillo; Davide Marano; Giuseppe Romeo
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Date Published:
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Proc. SPIE PAS16, 2016 Astronomical Telescopes + Instrumentation Posters, ; doi: 10.1117/12.2248112
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Domenico Impiombato, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Salvatore Giarrusso, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Teresa Mineo, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Osvaldo Catalano, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Carmelo Gargano, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Giovanni La Rosa, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Francesco Russo, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Pierluca Sangiorgi, Istituto di Astrofisica Spaziale e Fisica cosmica di Palermo (Italy)
Giovanni Bonanno, Osservatorio Astrofisico di Catania (Italy)
Salvatore Garozzo, Osservatorio Astrofisico di Catania (Italy)
Alessandro Grillo, Osservatorio Astrofisico di Catania (Italy)
Davide Marano, Osservatorio Astrofisico di Catania (Italy)
Giuseppe Romeo, Osservatorio Astrofisico di Catania (Italy)


Published in SPIE Proceedings Vol. PAS16:
2016 Astronomical Telescopes + Instrumentation Posters
Jan-Willem A. den Herder; Tadayuki Takahashi; Marshall Bautz; Howard A. MacEwen; Giovanni G. Fazio; Makenzie Lystrup; Helen J. Hall; Roberto Gilmozzi; Heather K. Marshall; Christopher J. Evans; Luc Simard; Hideki Takami; Enrico Marchetti; Laird M. Close; Jean-Pierre Véran; Ramón Navarro; James H. Burge; Gianluca Chiozzi; Juan C. Guzman; Andrew D. Holland; James Beletic; George Z. Angeli; Philippe Dierickx; Fabien Malbet; Michelle J. Creech-Eakman; Peter G. Tuthill; Alison B. Peck; Robert L. Seaman; Chris R. Benn; Wayne S. Holland; Jonas Zmuidzinas, Editor(s)

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